涂層測厚儀的測量原理是怎么樣的

閱讀次數：3651   發布時間：2022/10/20 15:11:52

涂(tu)層測厚儀的(de)測量原理是(shi)怎么樣的(de)？主要有兩種：

一、磁感(gan)應測厚儀測量原理

采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量）。

磁性原理(li)測厚(hou)儀可應用(yong)來(lai)測量鋼(gang)鐵表面的(de)油(you)漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料(liao)、橡(xiang)膠覆層，包(bao)括鎳(nie)鉻在內的(de)各種(zhong)有(you)色金屬電鍍層，以及化工(gong)石油(you)待業的(de)各種(zhong)防腐涂(tu)層。

二、電(dian)渦流測量原(yuan)理

高頻交流(liu)信號(hao)在測(ce)頭線圈(quan)中產生電(dian)磁場，測(ce)頭靠近(jin)導體時，就在其中形成渦流(liu)。測(ce)頭離導電(dian)基(ji)體愈(yu)(yu)近(jin)，則(ze)渦流(liu)愈(yu)(yu)大，反射阻抗也愈(yu)(yu)大。

這個反饋作(zuo)用(yong)量表征了測頭(tou)(tou)與導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體之(zhi)間距(ju)離(li)的大小，也就是導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體上(shang)非導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)覆層厚(hou)度(du)的大小。由于這類(lei)測頭(tou)(tou)門(men)測量非鐵磁(ci)(ci)(ci)金屬基(ji)材上(shang)的覆層厚(hou)度(du)，所以通(tong)常稱(cheng)之(zhi)為非磁(ci)(ci)(ci)性測頭(tou)(tou)。非磁(ci)(ci)(ci)性測頭(tou)(tou)采用(yong)高(gao)頻材料做線(xian)圈鐵芯，例如鉑鎳合(he)金或其(qi)它新材料。與磁(ci)(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理比較，主要(yao)區別是測頭(tou)(tou)不同(tong)，信號的頻率(lv)不同(tong)，信號的大小、標度(du)關系不同(tong)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

原創作者：蘇州欣美和儀器有限公司