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當前位置(zhi):蘇州欣美和儀器有限公司>產品中心>通用光學儀器 > 涂層,鍍層測厚儀,膜厚儀 > EC-770X大量程測厚儀外(wai)置版
【性能特點】
兩種測(ce)量(liang)模式(shi),單次(ci)和連續;
可存(cun)儲Z多五組數據;
可靈活零校準和多點校準(Z多四點)。各組有單獨的零校準和多點校準,組與組之間不影響;
用(yong)戶可(ke)隨(sui)時查看(kan)當前工作組已測得的數(shu)據,并刪除(chu)指定數(shu)據或(huo)整組數(shu)據;
實(shi)時顯示(shi)或查(cha)看當前工(gong)作組(zu)統計值:平均值,Z小值,Z大值,標準(zhun)方差;
三種探頭模式: 自動、磁感應和渦流;
可(ke)為各組單(dan)獨設置高低(di)限報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing)值,超限時屏幕指示(shi)報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing),支持紅色背(bei)光報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing);
可(ke)開啟或關閉自動(dong)關機(ji)功能;
USB接口可傳輸數據到計算機;
單位可在um、mm、mils之間切換;
低(di)電和(he)錯誤提示;
【適用范圍】
本儀器EC-770X大量程測厚儀外置版能無損、快速、精密地(di)進行涂(tu)、鍍(du)層(ceng)厚度的(de)測量(liang)。它(ta)廣(guang)泛應用在(zai)油漆面、電鍍(du)層(ceng)、表面工藝、管(guan)道(dao)防腐防火(huo)層(ceng)、機(ji)械(xie)設備表面防腐、化工設備、質控等檢測領域。
【技術參數】
型號 | EC-770 | EC-770S | EC-770E(外置探頭) | EC-770X(內外置探頭可選) |
探頭通道 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 |
原理 | 磁(ci)感應 渦流效應(ying) | 磁(ci)感應 渦流(liu)效應 | 磁感應 渦流效應(ying) | 磁(ci)感應 渦流效應(ying) |
測量范圍 | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 可選內置探(tan)頭(tou): F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K
可選外(wai)置探(tan)頭: F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K |
測量精度 | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) ±(2%+1um) | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um)
|
分辨率 | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) |
可存儲數(shu)(shu)據個數(shu)(shu) | 320 | 2000 | 320 | 2000 |
數據接口:USB |
公司介紹
宇問在無損檢測領域深耕逾10年,在無損測厚行業有深厚積累,我們致力于把當前Z的技術、產品、系統解決方案和服務帶給大眾。我們把技術完美經濟的融入產品和服務,客戶將輕松自在的使用它們,而不會為繁雜的技術費盡周折,也不會為改進工作而付出昂貴的成本投入。宇問自主研發推出的EC系列儀器能無損、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它廣泛應用在汽車制造、汽車美容、二手車漆面、電鍍層、表面工藝、管道防腐層、機械設備表面防腐、化工設備、質控等檢測領域。
更新時間:2024/6/11 14:31:44
標(biao)簽:EC-770X大量程測厚儀外置版
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