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EC-770X大量程測厚儀外置版

  • 產(chan)品名稱:EC-770X大量程測厚儀外置版
  • 產(chan)品價格(ge):面議
  • 產品產地(di):中國大陸
  • 訪問次數:212 發布(bu)時間:2020/11/3 11:57:07
  • 簡(jian)介內容:本儀器EC-770X大量程測厚儀外置版能同時測量磁性基材表面(如鋼、鐵等)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層(如油漆等)。本儀表內置高精密雙探頭,利用電磁感應和渦流效應,全自動探測基材屬性,計算涂鍍層厚度,并通過液晶快速顯示結果。
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詳細內容

EC-770X大量程測厚儀外置版

 EC-770X大量程測厚儀外置版能(neng)同時測量磁(ci)性(xing)(xing)基(ji)(ji)材表面(如鋼、鐵等)的非(fei)磁(ci)性(xing)(xing)涂(tu)鍍(du)層(ceng)(如油漆、陶(tao)瓷、鉻(ge)等),以及(ji)非(fei)磁(ci)性(xing)(xing)金屬(shu)基(ji)(ji)材表面的非(fei)導電涂(tu)鍍(du)層(ceng)(如油漆等)。本儀表內置高精密雙探(tan)頭,利(li)用電磁(ci)感(gan)應(ying)(ying)和渦流效應(ying)(ying),全自動(dong)探(tan)測基(ji)(ji)材屬(shu)性(xing)(xing),計算涂(tu)鍍(du)層(ceng)厚度,并通過液晶快速顯(xian)示結果。

 

性能特點

 

兩種測(ce)量(liang)模式(shi),單次(ci)和連續;

 

可存(cun)儲Z多五組數據;

 

可靈活零校準和多點校準(Z多四點)。各組有單獨的零校準和多點校準,組與組之間不影響;

 

用(yong)戶可(ke)隨(sui)時查看(kan)當前工作組已測得的數(shu)據,并刪除(chu)指定數(shu)據或(huo)整組數(shu)據;

 

實(shi)時顯示(shi)或查(cha)看當前工(gong)作組(zu)統計值:平均值,Z小值,Z大值,標準(zhun)方差;

 

三種探頭模式: 自動、磁感應和渦流;

 

可(ke)為各組單(dan)獨設置高低(di)限報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing)值,超限時屏幕指示(shi)報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing),支持紅色背(bei)光報(bao)(bao)(bao)警(jing)(jing);

 

可(ke)開啟或關閉自動(dong)關機(ji)功能;

 

USB接口可傳輸數據到計算機;

 

單位可在ummmmils之間切換;

 

低(di)電和(he)錯誤提示;

 

適用范圍

 

本儀器EC-770X大量程測厚儀外置版能無損、快速、精密地(di)進行涂(tu)、鍍(du)層(ceng)厚度的(de)測量(liang)。它(ta)廣(guang)泛應用在(zai)油漆面、電鍍(du)層(ceng)、表面工藝、管(guan)道(dao)防腐防火(huo)層(ceng)、機(ji)械(xie)設備表面防腐、化工設備、質控等檢測領域。

 

技術參數

型號

EC-770

EC-770S

EC-770E(外置探頭)

EC-770X(內外置探頭可選)

探頭通道

鐵磁性F探頭

非鐵磁性N探頭

鐵磁性F探頭

非鐵磁性N探頭

鐵磁性F探頭

非鐵磁性N探頭

鐵磁性F探頭

非鐵磁性N探頭

原理

磁(ci)感應

渦流效應(ying)

磁(ci)感應

渦流(liu)效應

磁感應

渦流效應(ying)

磁(ci)感應

渦流效應(ying)

測量范圍

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

可選內置探(tan)頭(tou):

F5K N3K

F3K N3K

F2.5K N2.5K

F5K

F3K

F2.5K

N3K

N2.5K

 

可選外(wai)置探(tan)頭:

F5K N3K

F3K N3K

F2.5K N2.5K

F5K

F3K

F2.5K

N3K

N2.5K

測量精度

±(2.5%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2%+1um)

±(2%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2%+1um)

 

分辨率

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

可存儲數(shu)(shu)據個數(shu)(shu)

320

2000

320

2000

數據接口:USB
電源:21.5AAA電池
操作溫度:-10 to 50
存儲溫度:-10 to 60
認證與標準:CEROHSISO 21782360GB/T 4956-20034957-2003
尺寸與重量:113mmX53mmX24mm  80g

公司介紹
宇問在無損檢測領域深耕逾
10年,在無損測厚行業有深厚積累,我們致力于把當前
Z的技術、產品、系統解決方案和服務帶給大眾。我們把技術完美經濟的融入產品和服務,客戶將輕松自在的使用它們,而不會為繁雜的技術費盡周折,也不會為改進工作而付出昂貴的成本投入。宇問自主研發推出的EC系列儀器能無損、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它廣泛應用在汽車制造、汽車美容、二手車漆面、電鍍層、表面工藝、管道防腐層、機械設備表面防腐、化工設備、質控等檢測領域。

更新時間:2024/6/11 14:31:44

標(biao)簽:EC-770X大量程測厚儀外置版   

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